Microscopie

CanmetMATÉRIAUX a à sa disposition des microscopes électroniques à la fine pointe de la technologie qui offrent des capacités de caractérisation et de micro-analyse de classe mondiale, notamment des microscopes électroniques à balayage (MEB) à émission par effet de champ haut de gamme, un microscope à faisceaux ioniques focalisés (FIF) à double faisceau et un microscope électronique à transmission (MET) à émission par effet de champ, ainsi qu’un ensemble complet d’installations de métallographies, y compris pour les essais de microdureté, des microscopes optiques et un analyseur d’images numériques.

Le MEB à haute résolution est doté d’un spectromètre par rayons X à dispersion d'énergie (SDE) à fenêtre mince pour l’analyse de la composition chimique qualitative, d’un spectromètre par rayons X en longueur d’ondes pour l’analyse de la composition quantitative et un détecteur de diagramme de diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) pour les identifications de phase et les études de microtexture.

Le microscope à FIF à double faisceau présente également des capacités de SDE et d’EBSD ainsi que d’imagerie et d’analyse des sections d’échantillons et de coupe en série, de modification de circuits et de préparation d’échantillons pour l’examen par le MET.

Le MET est équipé de systèmes d’analyse à la fine pointe comme la technologie ChemiSTEM^MC, qui permet une analyse SDE rapide et une application élémentaire, et un spectromètre de perte d’énergie d’électrons (EELS), capable d’effectuer des analyses chimiques des éléments plus légers.